- 产 地广东 广州
- 品 牌
- 型 号Sphere-3000
- 类 型显微检测仪
显微测定微小领域的反射率 物镜对焦于被测物微小区域（φ60μm）
CIE颜色测定 X Y色度图，x, y, L, a, b, 饱和度，主波长等
检测速度快 高性能探测器，能在几秒内实现重现性高的测定
消除背面反射光 无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率
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球面光学元件显微检测仪Sphere-3000参数表
产品介绍
Sphere-3000光学元件反射率测量仪
仪器能快速准确地测量各类球面/非球面光学器件的相对反射率。适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量，还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。
特点：
技术参数
| 型号 | Sphere-3000（II型） | Sphere-3000（III型） | Sphere-3000（NIR） |
| 检测范围 | 380~1100nm | 380~1000nm | 900~1700nm |
| 波长分辨率 | 1nm | 1nm | 3nm |
| 相对检测误差 | 0.75% | 0.5% | 0.5% |
| 测定方法 | 与标准物比较测定 | ||
| 被测物再现性 |
±0.1%以下 （380nm~410nm） ±0.05%以下 (410nm~900nm) |
±0.1%以下 （380nm~400nm） ±0.05%以下 (400nm~900nm) |
±0.1%以下 (1000nm~1600nm) |
| 单次测量时间 | ＜1S | ||
| 精度 | 0.3nm | ||
| 被测物N.A. |
0.12(使用10×对物镜时) 0.24(使用20×对物镜时) | ||
| 被测物尺寸 |
直径>1mm 厚度>1mm(使用10×对物镜时) 厚度>0.5mm(使用20×对物镜时) 厚度>0.1mm(使用50×对物镜时) | ||
|
被测物 测定范围 | 约φ100μm(使用10×对物镜时) 约φ60μm(使用20×对物镜时) 约φ30μm(使用50×对物镜时) | ||
| 设备重量 | 约22kg（光源内置） | ||
| 设备尺寸 | 300(W)×550(D)×570(H)mm | ||
| 使用环境 |
水平且无振动的场所 温度：23±5℃；湿度：60％以下、无结露， | ||
| 操作系统 | Windows7~Windows10 | ||
| 软件 | 分光反射率、物体颜色、单层膜厚（有干涉条纹）和镀膜（有干涉条纹）折射率测定 | ||
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